2014年6月4日(水)から6日(金)に開催されますJPCA Show 2014に出展致します。
本年のJPCA Showは、「既存分野から新分野まで業界標準(de-facto standard)の検査技術をご提供」をテーマに、プリント基板・半導体パッケージ検査向け通電検査装置の新製品に加えて、タッチパネルや車載用部品検査などの新分野まで、お客様に最適な検査ソリューションをご提案いたします。
【主な展示内容】
・半導体パッケージ検査装置 GATS-7530 / 7510
・プリント基板検査装置 STAR REC M6 ⅡW / STAR REC M6 ⅡSW
・高速/高精度テスター R-5810
・光学式外観検査装置 RSH-S/D120C、 Rwi-300 他
・検査治具 同軸MEMS、20umプローブ治具、ユニバーサル治具
・タッチパネル検査装置 フィルムRoll to Roll(供給、巻き取り)機構付き装置
・車載関連検査装置 他
是非、弊社のブースにお立ち寄り下さい。
会場 : 東京ビッグサイト 東6ホール
会期 : 2014年6月4日(水)~6日(金)
展示ブース : 4G-04
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